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Schlagwort Reflektometrie
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Boneberg, Johannes: Dynamik der Verfestigung von Halbleiterschichten nach ns-laser-annealing
/ Johannes Boneberg. - 1. Aufl. - Konstanz : Hartung-Gorre, 1993. - 118 S. : Ill., graph. Darst.; 21 cm - (Konstanzer Dissertationen; Bd. 387)
ISBN 978-3-89191-694-0 / 3-89191-694-9 kart. : DM 98.00, sfr 98.00, S 686.00
Quelle: DNB
X-ray and neutron reflectivity
: principles and applications / J. Daillant ... (ed.). - Berlin : Springer, 2008. - Online-Ressource - (Lecture notes in physics; 770)
ISBN 978-3-540-88588-7
Lizenzpflichtig
Quelle: DNB
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