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Bönner, Arno: Digitale SAP-Massendatenanalyse

: Risiken erkennen - Prozesse optimieren / von Arno Bönner, Martin Riedl und Stefan Wenig. - Berlin : Erich Schmidt, 2011. - 265 S. : graph. Darst.; 24 cm

ISBN 978-3-503-11652-2 / 3-503-11652-4 kart. : EUR 39.95 (DE), EUR 40.30 (AT), sfr 52.00 (freier Pr.)

Literaturangaben

Quelle: DNB Verlagsmeldungen

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