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Reisinger, Johann: Charakterisierung von Defekten in Silizium nach Bestrahlung mit leichten Ionen
/ Johann Reisinger. - Wien : VWGÖ, 1993. - 119 S. : graph. Darst.; 21 cm - (Dissertationen der Johannes-Kepler-Universität Linz; 103)
ISBN 978-3-85369-921-8 / 3-85369-921-9 kart. : DM 24.00, sfr 21.50, S 156.00
Quelle: DNB
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