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Schlagwort Sekundärionen-Massenspektrometrie
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Düsterhöft, Heinz: Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie "SIMS"
: mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang / von Heinz Düsterhöft, Miklos Riedel und Bettina-Kirsten Düsterhöft. - Stuttgart : Teubner, 1999. - 184 S. : graph. Darst.; 21 cm - (Teubner-Studienbücher : Physik)
ISBN 978-3-519-03239-7 / 3-519-03239-2 kart. : DM 36.80, sfr 33.00, S 269.00
Literaturverz. S. 157 - 176
Quelle: DNB
Pirzer, Martin: Präparation und Charakterisierung von p- und n-ZnSe,GaAs-Schichtstrukturen
/ vorgelegt von Martin Pirzer. - 1. Aufl. - Konstanz : Hartung-Gorre, 1993. - 87 S. : Ill., graph. Darst.; 21 cm - (Konstanzer Dissertationen; Bd. 398)
ISBN 978-3-89191-709-1 / 3-89191-709-0 kart. : DM 78.00, sfr 78.00, S 546.00
Quelle: DNB
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