Krivoglaz, Michail A.: Diffusive scattering of X-rays and neutrons by fluctuations
/ Mikhail A. Krivoglaz. [Transl. Oleg A. Glebov]. - Berlin : Springer, 1996. - XIII, 284 S. : graph. Darst.; 24 cm
ISBN 978-3-540-57627-3 / 3-540-57627-4 Pp. : DM 198.00
Literaturverz. S. 269 - 284
Quelle: DNB
Holý, Václav: High resolution X-ray scattering from thin films and multilayers
/ Václav Holý ; Ullrich Pietsch ; Tilo Baumbach. - Berlin : Springer, 1999. - XI, 256 S. : graph. Darst.; 25 cm - (Springer tracts in modern physics; Vol. 149)
ISBN 978-3-540-62029-7 / 3-540-62029-X Pp. : DM 249.00
Literaturangaben
Quelle: DNB
Nanobeam x-ray scattering
: probing matter at the nanoscale / Julian Stangl .... - Weinheim : Wiley-VCH-Verl., 2013. - XII, 270 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm
ISBN 978-3-527-41077-4 / 3-527-41077-5 Pp. : EUR 99.00 (DE) (freier Pr.), EUR 101.80 (AT) (freier Pr.), sfr 129.00 (freier Pr.)
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
Scattering methods and the properties of polymer materials
/ vol. ed.: Norbert Stribeck ; Bernd Smarsly. - Berlin : Springer, 2005. - IX, 175 S. : Ill., graph. Darst.; 29 cm - (Progress in colloid & polymer science; Vol. 130)
ISBN 978-3-540-25323-5 / 3-540-25323-8 Pp.
Literaturangaben
Quelle: DNB
Scattering methods for the investigation of polymers
: invited lectures presented at the 20th Discussion Conference of the Prague Meetings on Macromolecules held in Prague, Czech Republic, July 9 - 12, 2001 / International Union of Pure and Applied Chemistry, Macromolecular Division. Symposium ed. Jaroslav Kahovec. - Weinheim : Wiley-VCH, 2002. - 200 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm - (Macromolecular symposia; 190)
ISBN 978-3-527-30480-6 / 3-527-30480-0 Pp.
Literaturangaben
Quelle: DNB
Surface X-ray and neutron scattering
: proceedings of the 2nd international conference, Physik-Zentrum, Bad Honnef, Fed. Rep. of Germany, June 25 - 28, 1991 / H. Zabel ; I. K. Robinson (ed.). - Berlin : Springer, 1992. - XI, 256 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm - (Springer proceedings in physics; 61)
ISBN 978-3-540-54896-6 / 3-540-54896-3 Pp. : DM 99.00
Literaturangaben
Quelle: DNB
Thin film analysis by x-ray scattering
/ Mario Birkholz. With contributions by Paul F. Fewster ; Christoph Genzel. - Weinheim : Wiley-VCH, 2006. - XXII, 356 S. : Ill., graph. Darst.; 25 cm
ISBN 978-3-527-31052-4 / 3-527-31052-5 Pp. : EUR 119.00, sfr 176.00
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
Von der Röntgenkleinwinkelstreuung zum Small Angle X-ray Scattering
: 40 Jahre Forschung u. Lehre in Graz unter d. Leitung von Otto Kratky / hrsg. von Josef Schurz u. Mitarb. d. Inst. für Physikal. Chemie an d. Karl-Franzens-Univ. Graz. - Graz, Austria : Akademische Druck- u. Verlagsanstalt, 1987. - 96 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm - (Publikationen aus dem Archiv der Universität Graz; Bd. 20)
ISBN 978-3-201-01372-7 / 3-201-01372-2 S 140.00
Bibliogr. O. Kratky S. 79 - 82
Quelle: DNB
Schmidbauer, Martin: X-ray diffuse scattering from self-organized mesoscopic semiconductor structures
/ Martin Schmidbauer. - Berlin : Springer, 2004. - X, 202 S. : graph. Darst.; 24 cm - (Springer tracts in modern physics; Vol. 199)
ISBN 978-3-540-20179-3 / 3-540-20179-3 Pp. : EUR 133.70 (freier Pr.), sfr 202.00
Literaturangaben
Quelle: DNB
X-ray diffuse scattering from self-organized mesoscopic semiconductor structures
/ Martin Schmidbauer. - Berlin : Springer, 2004. - Online-Ressource - (Springer tracts in modern physics; Vol. 199)
ISBN 978-3-540-39986-5
Lizenzpflichtig
Quelle: DNB
