Bonnenberg, Heinz: Secure testing of VLSI cryptographic equipment
/ Heinz Bonnenberg. - 1. Aufl. - Konstanz : Hartung-Gorre, 1993. - XV, 123 S. : Ill., graph. Darst; 21 cm - (Series in microelectronics; Vol. 25)
ISBN 978-3-89191-688-9 / 3-89191-688-4 kart. : DM 88.00
Literaturverz. S. 107 - 112
Quelle: DNB
Testing commercial off the shelf components and systems
/ Sami Beydeda ; Volker Gruhn (ed.). - Berlin : Springer, 2005. - XIV, 409 S. : graph. Darst.; 24 cm
ISBN 978-3-540-21871-5 / 3-540-21871-8 Pp. : EUR 80.20 (freier Pr.), sfr 127.00 (freier Pr.)
Literaturverz. S. 381 - 405
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
Test und Verlässlichkeit von Rechnern
/ Günter Kemnitz. - Berlin : Springer, 2007. - Online-Ressource - (eXamen.press)
ISBN 978-3-540-71355-5
Lizenzpflichtig
Quelle: DNB
Daehn, Wilfried: Testverfahren in der Mikroelektronik
: Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen / Wilfried Daehn. - Berlin : Springer, 1997. - XI, 219 S. : graph. Darst.; 25 cm - (Mikroelektronik)
ISBN 978-3-540-61728-0 / 3-540-61728-0 Pp. : DM 128.00
Literaturverz. S. 209 - 219
Quelle: DNB
