Organized organic ultrathin films
: fundamentals and applications / ed. by Katsuhiko Ariga. - Weinheim : Wiley-VCH-Verl., 2013. - XII, 214 S. : Ill., graph. Darst.; 25 cm
ISBN 978-3-527-32733-1 / 3-527-32733-9 Pp. : EUR 99.00
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
Oxide ultrathin films
: science and technology / ed. by Gianfranco Pacchioni and Sergio Valeri. - Weinheim : Wiley-VCH-Verl., 2012. - XVI, 352 S. : Ill., graph. Darst.; 25 cm
ISBN 978-3-527-33016-4 / 3-527-33016-X Pp. : EUR 139.00
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
Quinten, Michael: A practical guide to optical metrology for thin films
/ Michael Quinten. - Weinheim : Wiley-VCH-Verl., 2013. - XII, 211 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm
ISBN 978-3-527-41167-2 / 3-527-41167-4 kart. : EUR 69.00 (DE) (freier Pr.), EUR 71.00 (AT) (freier Pr.)
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
Markschläger, Patrick: Reaktive Abscheidung von Metalloxiden auf Polycarbonat zur Erzeugung transparenter Verschleißschutzschichten
: mit 13 Tabellen / Patrick Markschläger. - Berlin : Springer, 1998. - 163 S. : Ill., graph. Darst.; 21 cm - (IPA-IAO-Forschung und Praxis; Bd. 278)
ISBN 978-3-540-65502-2 / 3-540-65502-6 kart. : DM 98.00
Quelle: DNB
Müller, Wolfgang: Spezifische Wechselwirkung von Proteinen und katalytische Atomic-force-Mikroskopie an funktionalisierten Oberflächen
/ Wolfgang Müller. - Stuttgart : Steiner, 1996. - 110 S. : Ill., graph. Darst. - (Colloquia Academica : Naturwissenschaften ; 1995)
ISBN 978-3-515-06867-3 / 3-515-06867-8 kart. : DM 49.00, sfr 49.00, S 382.00
Literaturangaben
Quelle: DNB
Wöhrmann, Ute: Strukturelle und magnetische Eigenschaften dünner Kobaltfilme auf Cu(100)
/ Ute Wöhrmann. - 1. Aufl. - Konstanz : Hartung-Gorre, 1994. - 79 S. : graph. Darst.; 21 cm - (Konstanzer Dissertationen; Bd. 438)
ISBN 978-3-89191-826-5 / 3-89191-826-7 kart. : DM 88.00, sfr 91.00, S 623.00
Quelle: DNB
Surface and thin film analysis
: principles, instrumentation, applications / ed. by H. Bubert and H. Jenett. - Weinheim : Wiley-VCH, 2002. - XVII, 336 S. : Ill., graph. Darst.; 25 cm
ISBN 978-3-527-30458-5 / 3-527-30458-4 Pp. : EUR 99.00
Literaturverz. S. 303 - 324
Quelle: DNB
Surface and thin film analysis
: a compendium of principles, instrumentation, and applications / ed. by Gernot Friedbacher and Henning Bubert. - 2., compl. rev. and enl. ed. - Weinheim : Wiley-VCH-Verl., 2011. - XXIV, 533 S. : zahlr. Ill. graph. Darst.; 24 cm
ISBN 978-3-527-32047-9 / 3-527-32047-4 Pp. : EUR 139.00 (DE, freier Pr.)
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
Thin film analysis by x-ray scattering
/ Mario Birkholz. With contributions by Paul F. Fewster ; Christoph Genzel. - Weinheim : Wiley-VCH, 2006. - XXII, 356 S. : Ill., graph. Darst.; 25 cm
ISBN 978-3-527-31052-4 / 3-527-31052-5 Pp. : EUR 119.00, sfr 176.00
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
Wasa, Kiyotaka: Thin films material technology
: sputtering of compound materials / by Kiyotaka Wasa ; Makoto Kitabatake ; Hideaki Adachi. - Norwich, NY : Andrew, 2004. - XIV, 518 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm
ISBN 978-3-540-21118-1 / 3-540-21118-7 Pp. : EUR 149.75
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
