hintergrundbild
logo
logo
Suchfeld einblenden
ISBN / EAN
Nachname
Vorname
Titel
Reihe
Schlagwort
und   oder
Index
Verlag
Ersch.-Jahr
bis
Katalog
Rezensent
Person Haitovsky, Yoel
1 Treffer
Seite < 1 >
Cover

Foundations of statistical inference

: proceedings of the Shoresh conference 2000 ; with 18 tables / Yoel Haitovsky ... (ed.). - Heidelberg : Physica-Verl., 2003. - XI, 230 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm - (Contributions to statistics)

ISBN 978-3-7908-0047-0 / 3-7908-0047-3 kart.

Literaturangaben

Quelle: DNB

Seite < 1 >
Projekte . Kooperationen
Advertorial