hintergrundbild
logo
logo
Suchfeld einblenden
ISBN / EAN
Nachname
Vorname
Titel
Reihe
Schlagwort
und   oder
Index
Verlag
Ersch.-Jahr
bis
Katalog
Rezensent
Person Chang, Shih-Lin
1 Treffer
Seite < 1 >
Cover

Chang, Shih-Lin: X-Ray multiple wave diffraction

: theory and application / Shih-Lin Chang. - Berlin : Springer, 2004. - XII, 431 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm - (Springer series in solid-state sciences; 143)

ISBN 978-3-540-21196-9 / 3-540-21196-9 Pp. : EUR 139.05

Literaturverz. S. 387 - 407

Quelle: DNB Verlagsmeldungen

Seite < 1 >
Projekte . Kooperationen
Advertorial