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Person Langenkamp, Martin
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Breitenstein, Otwin: Lock-in thermography
: basics and use for functional diagnostics of electronic components / O. Breitenstein ; M. Langenkamp. - Berlin : Springer, 2003. - VIII, 193 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm - (Advanced microelectronics; 10)
ISBN 978-3-540-43439-9 / 3-540-43439-9 Pp. : EUR 85.55
Literaturverz. S. 173 - 179
Quelle: DNB
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