Düsterhöft, Heinz: Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie "SIMS"
: mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang / von Heinz Düsterhöft, Miklos Riedel und Bettina-Kirsten Düsterhöft. - Stuttgart : Teubner, 1999. - 184 S. : graph. Darst.; 21 cm - (Teubner-Studienbücher : Physik)
ISBN 978-3-519-03239-7 / 3-519-03239-2 kart. : DM 36.80, sfr 33.00, S 269.00
Literaturverz. S. 157 - 176
Quelle: DNB
Experimentelle Baumechanik
: Mess- und Belastungstechnik ; Modell- und Originalversuche ; In-situ-Versuche / hrsg. von Jochen Quade und Marco Tschötschel. Unter Mitarb. von Heinz Düsterhöft .... - 1. Aufl. - Düsseldorf : Werner, 1993. - X, 266 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm
ISBN 978-3-8041-3074-6 / 3-8041-3074-7 kart. : DM 72.00
Literaturverz. S. 246 - 258
Quelle: DNB
