Advanced calculations for defects in materials
: electronic structure methods / ed. by Audrius Alkauskas .... - Weinheim : Wiley-VCH-Verl., 2011. - XVIII, 384 S. : Ill., graph. Darst.; 25 cm
ISBN 978-3-527-41024-8 / 3-527-41024-4 Pp. : EUR 129.00 (DE, freier Pr.)
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
Dierolf, Volkmar: Electronic defect states in alkali halides
: effects of interaction with molecular ions / Volkmar Dierolf. - Berlin : Springer, 2003. - XII, 196 S. : graph. Darst.; 24 cm - (Springer tracts in modern physics; Vol. 185)
ISBN 978-3-540-00471-4 / 3-540-00471-8 Pp. : EUR 117.65
Literaturangaben
Quelle: DNB
Extended defects in Germanium
: fundamental and technological aspects / Cor Claeys .... - Berlin : Springer, 2008. - Online-Ressource - (Springer series in materials science; 118)
ISBN 978-3-540-85614-6
Lizenzpflichtig
Quelle: DNB
Theory of defects in semiconductors
: with 15 tables / David A. Drabold ... (ed.). - Berlin : Springer, 2007. - Online-Ressource - (Topics in applied physics; Vol. 104)
ISBN 978-3-540-33401-9
Lizenzpflichtig
Quelle: DNB
Wolf, Konrad: Untersuchungen zu Gitterdefekten und Störstellen in epitaktischen II- VI-Halbleitern grosser Bandlücke mit Methoden der Photolumineszenz und Röntgenbeugung
/ Konrad Wolf. - Regensburg : Roderer, 1994. - III, 162 S. : graph. Darst.; 21 cm - (Theorie und Forschung; Bd. 311 : Physik ; Bd. 2)
ISBN 978-3-89073-744-7 / 3-89073-744-7 kart. : DM 58.00, sfr 58.00, S 406.00
Quelle: DNB
Dric, Viktor A.: X-ray diffraction by disordered lamellar structures
: theory and applications to microdivided silicates and carbons / Victor A. Drits ; Cyril Tchoubar. With the collaboration of G. Besson ... Foreword by André Guinier. [Transl. from French by: R. Setton]. - Berlin : Springer, 1990. - XVII, 371 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm
ISBN 978-3-540-51222-6 / 3-540-51222-5 : DM 268.00
Literaturangaben
Quelle: DNB
