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Person Flegler, Stanley L.
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Flegler, Stanley L.: Elektronenmikroskopie
: Grundlagen - Methoden - Anwendungen / Stanley L. Flegler ; John W. Heckman, jr. ; Karen L. Klomparens. Aus dem Amerikan. von Marita Blankenhagel. - Heidelberg : Spektrum, Akad. Verl., 1995. - VIII, 279 S. : Ill., graph. Darst.; 25 cm
ISBN 978-3-86025-341-0 / 3-86025-341-7 Pp. : DM 78.00
Literaturangaben
Quelle: DNB
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