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Person Birkholz, Mario
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Thin film analysis by x-ray scattering
/ Mario Birkholz. With contributions by Paul F. Fewster ; Christoph Genzel. - Weinheim : Wiley-VCH, 2006. - XXII, 356 S. : Ill., graph. Darst.; 25 cm
ISBN 978-3-527-31052-4 / 3-527-31052-5 Pp. : EUR 119.00, sfr 176.00
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
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