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Person Yeung, Dit-Yan
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Structural, syntactic, and statistical pattern recognition

: joint IAPR international workshops ; proceedings / SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17 - 19, 2006. Dit-Yan Yeung ... (ed.). - Berlin : Springer, 2006. - Online-Ressource - (Lecture notes in computer science; 4109)

ISBN 978-3-540-37241-7

Lizenzpflichtig

Quelle: DNB

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