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Schlagwort Härteeindruck
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Kaupp, Gerd: Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching
: application to rough and natural surfaces / Gerd Kaupp. - Berlin : Springer, 2006. - XII, 292 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm - (Nanoscience and technology)
ISBN 978-3-540-28405-5 / 3-540-28405-2 Pp. : EUR 96.25 (freier Pr.)
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
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