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Schlagwort Lebensdauerspektroskopie
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Rein, Stefan: Lifetime spectroscopy
: a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications / S. Rein. - Berlin : Springer, 2005. - XXVI, 489 S. : graph. Darst.; 24 cm - (Springer series in materials science; 85)
ISBN 978-3-540-25303-7 / 3-540-25303-3 Pp. : EUR 149.75 (freier Pr.), sfr 237.00 (freier Pr.)
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
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