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Schlagwort Großsignalverhalten
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Bonani, Fabrizio: Noise in semiconductor devices
: modeling and simulation / Fabrizio Bonani ; Giovanni Ghione. - Berlin : Springer, 2001. - XXXI, 213 S. : graph. Darst.; 24 cm - (Advanced microelectronics; 7)
ISBN 978-3-540-66583-0 / 3-540-66583-8 Pp. : DM 160.39
Literaturverz. S. 201 - 208
Quelle: DNB
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