Michaelis, Alexander: Advanced ceramic oxides for electronics
: electrochemistry, spectroscopy, properties, and applications / Alexander Michaelis. - Stuttgart : Fraunhofer-IRB-Verl., 2006. - II, I, 152 S. : Ill., graph. Darst.; 21 cm - (Publication series competencies in ceramics; Bd. 1)
ISBN 978-3-8167-7216-3 / 3-8167-7216-1 kart. : EUR 50.00, sfr 79.00
Quelle: DNB
Advanced nano deposition methods
/ edited by Yuan Lin and Xin Chen. - [1. Auflage] - Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2016. - XVI, 309 Seiten : Illustrationen; 25 cm
ISBN 978-3-527-34025-5 / 3-527-34025-4 Festeinband : circa EUR 119.00 (DE) (freier Preis)
Quelle: DNB
Jehn, Hermann: Charakterisierung dünner Schichten
/ Gesamtbearb.: Hermann Jehn ; Georg Reiners ; Norbert Siegel. Hrsg.: DIN, Deutsches Institut für Normung e.V.. - 1. Aufl. - Berlin : Beuth, 1993. - 245 S. : Ill., graph. Darst.; 30 cm - (DIN-Fachbericht; 39)
ISBN 978-3-410-13038-3 / 3-410-13038-1 kart. : DM 98.00
Literaturangaben
Quelle: DNB
Pinger, Thomas: Durch Dünnschichtverzinken auf Stahl aufgebrachte Zink-Aluminiumüberzüge
: Kommentar zur DIN 50997:2020 / Dr. Thomas Pinger ; Herausgeber: DIN, Deutsches Institut für Normung e.V.. - 1. Auflage - Berlin : Beuth Verlag GmbH, 2021. - VI, 58 Seiten : Illustrationen; 21 cm, 136 g - (Kommentar)
ISBN 978-3-410-30306-0 / 3-410-30306-5 Broschur : circa EUR 45.00 (DE), circa EUR 46.30 (AT)
Quelle: DNB
Electrical resistivity of thin metal films
/ Peter Wißmann .... - Berlin : Springer, 2007. - Online-Ressource - (Springer tracts in modern physics; Vol. 223)
ISBN 978-3-540-48490-5
Lizenzpflichtig
Quelle: DNB
Scott, James F.: Ferroelectric memories
/ J. F. Scott. - Berlin : Springer, 2000. - XVI, 248 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm - (Advanced microelectronics; 3)
ISBN 978-3-540-66387-4 / 3-540-66387-8 Pp. : DM 139.00
Literaturverz. S. 225 - 243
Quelle: DNB
Halide perovskites
: photovoltaics, light emitting devices, and beyond / edited by Tze-Chien Sum and Nripan Mathews. - [1. Auflage] - Weinheim, Germany : Wiley-VCH, 2019. - xi, 300 Seiten : Illustrationen; 25 cm
ISBN 978-3-527-34111-5 / 3-527-34111-0 Festeinband : circa EUR 139.00 (DE) (freier Preis), circa EUR 142.90 (AT) (freier Preis)
Quelle: DNB
Fröse, Diethelm: Herstellung und Analyse vergrabener Nitrid-Schichten in Si/SiO2/SIMOX-Systemen mittels Ionenstrahlmethoden
/ Diethelm Fröse. - Münster : Lit, 1995. - 134 S. : graph. Darst.; 21 cm - (Uni-Press-Hochschulschriften; Bd. 73)
ISBN 978-3-8258-2533-1 / 3-8258-2533-7 kart. : DM 24.80
Quelle: DNB
Holý, Václav: High resolution X-ray scattering from thin films and multilayers
/ Václav Holý ; Ullrich Pietsch ; Tilo Baumbach. - Berlin : Springer, 1999. - XI, 256 S. : graph. Darst.; 25 cm - (Springer tracts in modern physics; Vol. 149)
ISBN 978-3-540-62029-7 / 3-540-62029-X Pp. : DM 249.00
Literaturangaben
Quelle: DNB
Leitfaden für die Anwendung von Aluminium-Elektrolyt-Kondensatoren
: deutsche Fassung des CENELEC-Berichts 040-001:1998-07 = Guide for the application of aluminium electrolytic capacitors / Hrsg.: DIN, Deutsches Institut für Normung e.V. [Dieser CENELEC-Bericht wurde von EECA ETC WG1 "Aluminium-Elektrolyt-Kondensatoren" ausgearbeitet]. - 1. Aufl. - Berlin : Beuth, 1999. - 19 S. : graph. Darst.; 30 cm - (DIN-Fachbericht; 76)
ISBN 978-3-410-14471-7 / 3-410-14471-4 geh.
Quelle: DNB
