Suchfeld einblenden
Person Düsterhöft, Bettina-Kirsten
1 Treffer
Seite < 1 >
Düsterhöft, Heinz: Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie "SIMS"
: mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang / von Heinz Düsterhöft, Miklos Riedel und Bettina-Kirsten Düsterhöft. - Stuttgart : Teubner, 1999. - 184 S. : graph. Darst.; 21 cm - (Teubner-Studienbücher : Physik)
ISBN 978-3-519-03239-7 / 3-519-03239-2 kart. : DM 36.80, sfr 33.00, S 269.00
Literaturverz. S. 157 - 176
Quelle: DNB
Seite < 1 >
