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Person Antonio Quiroga, J.
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Servín, Manuel: Fringe pattern analysis for optical metrology
: theory, algorithms, and applications / Manuel Servin, J. Antonio Quiroga and J. Moisés Padilla. - Weinheim : Wiley-VCH, 2014. - XVI, 327 S. : Ill., graph. Darst.; 25 cm
ISBN 978-3-527-41152-8 / 3-527-41152-6 Pp. : EUR 129.00 (DE, freier Pr.), EUR 132.70 (AT, freier Pr.), sfr 174.00 (freier Pr.)
Literaturangaben
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
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