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Engemann, Simon Christoph: Premelting at the ice-SiO2 interface

: a high-energy X-ray microbeam diffraction study / vorgelegt von Simon Christoph Engemann. - Norderstedt : Books on Demand GmbH, 2006. - Online-Ressource

ISBN 978-3-8334-3980-3 / 3-8334-3980-7

Quelle: DNB

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