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Schlagwort Testbarkeit
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Daehn, Wilfried: Testverfahren in der Mikroelektronik
: Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen / Wilfried Daehn. - Berlin : Springer, 1997. - XI, 219 S. : graph. Darst.; 25 cm - (Mikroelektronik)
ISBN 978-3-540-61728-0 / 3-540-61728-0 Pp. : DM 128.00
Literaturverz. S. 209 - 219
Quelle: DNB
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