Formal approaches to software testing and runtime verification
: revised selected papers / First Combined International Workshops FATES 2006 and RV 2006, Seattle, WA, USA, August 15 - 16, 2006. Klaus Havelund ... (ed.). - Berlin : Springer, 2006. - Online-Ressource - (Lecture notes in computer science; 4262)
ISBN 978-3-540-49703-5
Lizenzpflichtig
Quelle: DNB
Meyer, Wolfgang: Hierarchische Mehr-Ebenen-Fehlersimulation mit Modellen der Schalter-Ebene
/ Wolfgang Meyer. Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung mbH. - München : Oldenbourg, 1994. - 147 S. : graph. Darst.; 24 cm - (Berichte der Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung; Nr. 240)
ISBN 978-3-486-23214-1 / 3-486-23214-2 kart. : ca. DM 42.00, ca. sfr 42.00, ca. S 328.00
Quelle: DNB
Jacomet, Marcel: Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen
/ Marcel Jacomet. - 1. Aufl. - Konstanz : Hartung-Gorre, 1991. - XIII, 261 S. : graph. Darst.; 21 cm - (Series in microelectronics; Vol. 8)
ISBN 978-3-89191-395-6 / 3-89191-395-8 kart. : DM 58.00
Quelle: DNB
Gläser, Uwe: Mehrebenen-Testgenerierung für synchrone Schaltwerke
/ Uwe Gläser. Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung mbH. - München : Oldenbourg, 1994. - 126 S. : graph. Darst.; 21 cm - (Berichte der Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung; Nr. 235)
ISBN 978-3-486-23193-9 / 3-486-23193-6 kart. : DM 40.00, sfr 40.00, S 312.00
Quelle: DNB
Model based testing of reactive systems
: advanced lectures / Manfred Broy ... (ed.). - Berlin : Springer, 2005. - VIII, 659 S. : graph. Darst.; 24 cm - (Lecture notes in computer science; Vol. 3472 : Tutorial)
ISBN 978-3-540-26278-7 / 3-540-26278-4 kart. : EUR 73.83 (freier Pr.), sfr 122.00 (freier Pr.)
Literaturverz. S. 617 - 651
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
Model based testing of reactive systems
: advanced lectures / Manfred Broy ... (ed.). - Berlin : Springer, 2005. - Online-Ressource - (Lecture notes in computer science; 3472)
ISBN 978-3-540-32037-1
Lizenzpflichtig
Quelle: DNB
Hübner, Uwe: Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung
/ Uwe Hübner. Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung mbH. - München : Oldenbourg, 1994. - 168 S. : graph. Darst. - (Berichte der Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung; Nr. 226)
ISBN 978-3-486-22926-4 / 3-486-22926-5 kart. : ca. DM 45.00
Quelle: DNB
Eggersglüß, Stephan: Test digitaler Schaltkreise
/ Stephan Eggersglüß ; Görschwin Fey ; Ilia Polian. - München : De Gruyter Oldenbourg, 2014. - X, 228 S. : graph. Darst.; 24 cm
ISBN 978-3-486-72013-6 / 3-486-72013-9 kart. : EUR 59.95 (DE), EUR 61.70 (AT), sfr 79.00 (freier Pr.)
Quelle: DNB Verlagsmeldungen
